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FB762型 等厚干涉實(shí)驗儀

產(chǎn)品名稱(chēng):FB762型 等厚干涉實(shí)驗儀

產(chǎn)品詳情

光的等厚干涉原理在生產(chǎn)實(shí)踐中具有廣泛的應用,它可用于檢測透鏡的曲率,測量光波波長(cháng),精確地測量徽小長(cháng)度、厚度和角度,檢驗物體表面的光潔度、平整度等。
工作形式:本實(shí)驗在保留原物理實(shí)驗形式與內容的基礎上,采用現代化的視頻技術(shù),應用CCD圖象顯示,既可以演示又可以測量,進(jìn)行測量基本精度0.004mm。優(yōu)于傳統的測微目鏡。
實(shí)驗內容
☆掌握等厚干涉原理及光束垂道入射有關(guān)劈尖和牛頓圈時(shí)的干涉計算
☆牛頓環(huán):觀(guān)察牛頓環(huán)的干涉圖象 測量凸面的曲率半徑
☆劈尖:測量微小量的厚度
☆掌握未知光源的波長(cháng)測量
儀器主要配置及技術(shù)參數
☆顯示屏:顯示屏大小:8寸,比例4:3;分辨率:320X240; 電源:DC:8-32V,功耗<10W;畫(huà)質(zhì):全自動(dòng)彩色畫(huà)質(zhì)優(yōu)良。
☆攝象頭:類(lèi)型:CMOS;分辨率:PAL制:625X582,NTSC制:51OX492 工作視角:620:最小照度:1.5 LAX;前后錄深:60-70mm。
☆多種光源:半導體激光器、鈉光燈、LED。

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