光的等厚干涉原理在生產(chǎn)實踐中具有廣泛的應用，它可用于檢測透鏡的曲率，測量光波波長，精確地測量徽小長度、厚度和角度，檢驗物體表面的光潔度、平整度等。
工作形式:本實驗在保留原物理實驗形式與內(nèi)容的基礎(chǔ)上，采用現(xiàn)代化的視頻技術(shù)，應用CCD圖象顯示，既可以演示又可以測量，進行測量基本精度0.004mm。優(yōu)于傳統(tǒng)的測微目鏡。
實驗內(nèi)容
☆掌握等厚干涉原理及光束垂道入射有關(guān)劈尖和牛頓圈時的干涉計算
☆牛頓環(huán):觀察牛頓環(huán)的干涉圖象 測量凸面的曲率半徑
☆劈尖:測量微小量的厚度
☆掌握未知光源的波長測量
儀器主要配置及技術(shù)參數(shù)
☆顯示屏:顯示屏大小:8寸，比例4:3;分辨率:320X240; 電源:DC:8-32V，功耗<10W;畫質(zhì):全自動彩色畫質(zhì)優(yōu)良。
☆攝象頭:類型:CMOS;分辨率:PAL制:625X582，NTSC制:51OX492 工作視角:620:最小照度:1.5 LAX;前后錄深:60-70mm。
☆多種光源:半導體激光器、鈉光燈、LED。